膠高檢測在工業(yè)生產中，特別是在那些對精密密封、結構強度或外觀質量有要求的領域非常重要。它就像是給產品關鍵部位上膠過程的“精密尺子”和“質量檢察官”。

膠高檢測的主要作用

膠高檢測的核心價值在于確保點膠或涂膠的高度一致性和精確性，其主要作用體現在以下幾個方面：

保證密封與防護性能：在許多產品中，膠水用于密封（如汽車電池、電子元器件）或防護（如PCB板）。膠高不足可能導致密封不嚴，引發(fā)泄漏、受潮、絕緣不良等問題。膠高過量則可能造成干涉或浪費。檢測系統能確保膠體在關鍵區(qū)域形成連續(xù)、厚度均勻的屏障。

保障結構粘接強度：膠水的粘接強度與其涂敷量和形狀（高度、寬度）直接相關。膠高不足會導致粘接面積不夠，強度下降；膠高過高則可能溢出污染其他部位，或影響裝配。精確的膠高控制是保障產品可靠性和耐久性的關鍵。

提升工藝控制與自動化水平：傳統人工檢測（目視、卡尺）效率低、主觀性強、易漏檢，且難以適應高速自動化生產。在線膠高檢測能實時反饋數據，甚至聯動點膠設備實現閉環(huán)控制，動態(tài)調整參數，減少廢品率，提升生產效率。

實現質量追溯與過程優(yōu)化：檢測系統通常記錄并上傳每件產品的膠高數據。這既便于質量問題追溯，也能通過統計分析優(yōu)化點膠工藝參數，持續(xù)改進生產質量。

檢測需求

樣品1. 檢測樣品芯片點膠頂部位置至底部平面的高度

樣品2. 檢測樣品面封膠的高度

樣品3. 檢測樣品圍壩的高度和寬度

測試需求

根據客戶提供的測試需求，利用線光譜共焦傳感器對樣品點膠位置進行掃描，通過2D圖像以及3D點云圖進行樣品特定位置高度信息的測量。

檢測原理

光譜共焦測量通過使用特殊透鏡，延長不同顏色光的焦點光暈范圍，形成特殊放大色差，使其根據不同的被測物體到透鏡的距離，會對應一個精確波長的光聚焦到被測物體上。通過測量反射光的波長，就可以得到被測物體到透鏡的精確距離。

反射光的光強不會影響測量結果。這意味著，無論有多少反射光從被測物體反射回來，測量的距離結果可能是不變的。因為反射光的光強僅僅取決于反射物體的反光程度。因此，采用海伯森的3D線光譜共焦傳感器，即使被測物體是強吸光材料，如黑色橡膠；或者是透明材料，如玻璃或者液體，都可以進行正?？煽康臏y量。

測試方案

樣品1號檢測效果圖

灰度圖

高度圖

3D點云圖

局部灰度圖

局部點云圖

樣品1號檢測結果

2D截面示意圖

3D點云截面示意圖

1D截面示意圖

經測量: 此處膠高為：0.4036mm

樣品2號檢測效果圖

灰度圖

高度圖

3D點云圖

局部點云圖

樣品2號檢測結果

2D截面示意圖

3D點云截面示意圖

1D截面示意圖

經測量: 樣品2零點位置封面膠的高度為：0.2134mm

樣品3號檢測效果圖

灰度圖

高度圖

3D點云圖

局部點云圖

樣品3號檢測結果

2D截面示意圖

3D點云截面示意圖

1D截面示意圖

經測量: 圍壩此處的寬度值為：1.37072mm

圍壩此處的高度值為：0.305046mm